儀器介紹：

　　差示掃描量熱法（熱流式DSC）作為一種可控程序溫度下的熱效應(yīng)的經(jīng)典熱分析方法，在當(dāng)今各類材料與化學(xué)領(lǐng)域的研究開發(fā)、工藝優(yōu)化、質(zhì)檢質(zhì)控與失效分析等各種場合早已得到了廣泛的應(yīng)用。利用DSC方法，我們能夠研究無機(jī)材料的相轉(zhuǎn)變、高分子材料熔融、結(jié)晶過程、藥物的多晶型現(xiàn)象、油脂等食品的固/液相比例等。用于測量與熱量有關(guān)的物理、化學(xué)變化，如玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、熔點、熔融溫度、結(jié)晶與結(jié)晶熱、相轉(zhuǎn)變反應(yīng)熱，產(chǎn)品的熱穩(wěn)定性、固化/交聯(lián)、氧化誘導(dǎo)期等。

　　儀器特點：

　　1、整機(jī)一體化設(shè)計，減少信號損失和干擾，大大提升了信號靈敏度和分辨率，能獲得更穩(wěn)定的基線。

　　2、配有進(jìn)口高頻內(nèi)核控制處理器，運算處理速度更快，控制更加高效。

　　3、采用進(jìn)口高靈敏度傳感器，有效提高了DSC信號的靈敏度和準(zhǔn)確率。

　　4、相互獨立的氣氛控制，可以通過軟件智能設(shè)置，儀器自動切換氣路系統(tǒng)，實驗效率更高。

　　5、設(shè)備系統(tǒng)的下位機(jī)和上位機(jī)同時具有多點溫度校正功能，滿足不同實驗場合的需求，提高了溫度測試的準(zhǔn)確性。

　　6、具有FTC和STC兩種實驗?zāi)Ｊ娇蛇x，控溫更加友好靈活，可以滿足不同應(yīng)用場景不同實驗的需求，對實驗過程溫度的控制更加**，對傳感器信號的解析更加高效。

　　7、全控溫系統(tǒng)采用優(yōu)化的自適應(yīng)動態(tài)PID算法，極大的規(guī)避了傳統(tǒng)PID算法需要手動調(diào)節(jié)的缺點，提高了雙模式控溫的魯棒性。

　　8、12階的程序控溫設(shè)置，讓實驗方法更加多樣化。

　　9、傳感器信號的采樣頻率1～10Hz可設(shè)置，實驗方法更加靈活，數(shù)據(jù)更加可控。

　　10、相互獨立的雙溫度傳感器，可以同時分別測試爐體溫度和樣品溫度。

　　11、設(shè)備系統(tǒng)可以做升溫、降溫和等溫相關(guān)類材料實驗。

　　12、儀器采用USB雙向通訊，支持自恢復(fù)連接，軟件智能化設(shè)計，具有基線的扣除功能，實驗過程自動繪圖，智能化實現(xiàn)各種數(shù)據(jù)的處理，如熱焓的計算、玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、氧化誘導(dǎo)期、物質(zhì)的熔點及結(jié)晶等等。

　　儀器參數(shù)：

　　1、 量程：0～±2000mW

　　2、 溫度范圍：室溫~600℃

　　3、 計時頻率：16.6Hz

　　4、 升溫速率：0.1~100℃/min

　　5、 溫度精度：0.001℃

　　6、 溫度分辨率：0.01℃

　　7、 溫度波動：±0.01℃

　　8、 溫度重復(fù)性：±0.01℃

　　9、 噪聲 ：0.001mW

　　10、解析度：0.01μW

　　11、**度：0.001mW

　　12、靈敏度：0.001mW

　　13、 實驗?zāi)Ｊ剑篎TC、STC任意設(shè)置

　　14、 程序控溫：全階段12階控溫靈活設(shè)置

　　15、 控溫方式：升溫、恒溫、降溫

　　16、 掃描類型：升溫、降溫、等溫掃描

　　17、 氣氛控制：兩路氣氛可自由設(shè)置，儀器自動切換

　　18、 顯示方式：24bit色7寸LCD觸摸屏顯示

　　19、 數(shù)據(jù)接口：標(biāo)準(zhǔn)USB接口

　　20、 采樣速率：1～10Hz可程序設(shè)置

　　21、 儀器校準(zhǔn)：下位機(jī)和上位機(jī)同時具有多點溫度校正功能

　　22、 參數(shù)標(biāo)準(zhǔn):配有標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，用戶可自行矯正溫度和熱焓

　　23、 儀器尺寸:490*390*215mm

　　參考標(biāo)準(zhǔn)：

　　GB/T 19466.2 – 2004 / ISO 11357-2: 1999第2部分：玻璃化轉(zhuǎn)變溫度的測定；

　　GB/T 19466.3 – 2004 / ISO 11357-3: 1999第3部分：熔融和結(jié)晶溫度及熱焓的測定；

　　GB /T 19466.6- 2009/ISO 11357-3 :1999 第6部分氧化誘導(dǎo)期氧化誘導(dǎo)時間（等溫OIT)和氧化誘導(dǎo)溫度（動態(tài)OIT)的測定。